屏蔽衰减是指电缆组件、电缆、连接器和微波被动元件对电磁波的屏蔽效果。在电磁兼容性测试中，屏蔽衰减是一个重要的参数。IEC 61726:1999标准规定了使用反射室法测量电缆组件、电缆、连接器和微波被动元件的屏蔽衰减的方法。

反射室法是一种广泛使用的测量屏蔽衰减的方法。该方法使用一个反射室，将待测物品放置在反射室内，通过测量反射室内的电磁波强度来计算屏蔽衰减。反射室法的优点是测量结果准确可靠，适用于各种类型的电缆组件、电缆、连接器和微波被动元件。

IEC 61726:1999标准规定了反射室法测量屏蔽衰减的具体步骤和要求。首先，需要选择合适的反射室，反射室的尺寸和形状应该符合标准要求。然后，将待测物品放置在反射室内，通过在反射室内放置一个天线，测量反射室内的电磁波强度。在测量过程中，需要注意反射室内的电磁波应该均匀分布，避免出现局部高强度的情况。最后，根据测量结果计算出待测物品的屏蔽衰减。

IEC 61726:1999标准适用于频率范围从30 MHz到18 GHz的电缆组件、电缆、连接器和微波被动元件的屏蔽衰减测量。该标准的实施可以保证电缆组件、电缆、连接器和微波被动元件的屏蔽性能符合要求，提高电磁兼容性。

相关标准
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