IEC 61967-1:2002是一项国际标准，适用于集成电路电磁辐射测量。该标准规定了测量的一般条件和定义，包括测量方法、测量设备、测量环境、测量参数等方面的内容。该标准的目的是为了确保集成电路在正常使用时不会对周围环境产生过多的电磁辐射，从而保证电子设备的安全性和可靠性。

IEC 61967-1:2002标准的主要内容包括以下几个方面：

1.测量方法：该标准规定了集成电路电磁辐射测量的方法，包括辐射测量和传导测量两种方法。辐射测量是指在电路周围测量电磁辐射的方法，传导测量是指在电路内部测量电磁辐射的方法。

2.测量设备：该标准规定了集成电路电磁辐射测量所需的设备，包括天线、放大器、频谱分析仪、示波器等。

3.测量环境：该标准规定了集成电路电磁辐射测量的环境条件，包括电磁屏蔽室、地面、电源等。

4.测量参数：该标准规定了集成电路电磁辐射测量所需的参数，包括辐射功率、辐射场强度、传导干扰等。

5.定义：该标准还规定了一些相关的定义，包括电磁辐射、辐射场强度、传导干扰等。

IEC 61967-1:2002标准的实施可以帮助电子设备制造商和测试机构确保其产品符合国际标准的要求，从而提高产品的质量和可靠性。同时，该标准的实施也可以帮助用户选择符合标准要求的电子设备，从而保证其使用的安全性和可靠性。

相关标准
IEC 61967-2:2003 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz 第2部分：测量方法和测量设备
IEC 61967-3:2006 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz 第3部分：测量参数和测量不确定度
IEC 61967-4:2006 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz 第4部分：测量结果的解释
IEC 61967-5:2006 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz 第5部分：测量结果的应用
IEC 61967-6:2006 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz 第6部分：测量结果的比较