半导体器件在使用过程中，可能会遭受各种环境的影响，如高温、低温、湿度、盐雾等。其中，盐雾环境是一种常见的环境影响因素，特别是在海洋环境中，盐雾对半导体器件的腐蚀作用更为明显。因此，对于半导体器件的可靠性评估，盐雾环境试验是必不可少的一项试验。

IEC 60749-13:2002标准规定了半导体器件在盐雾环境下的试验方法和试验条件。其中，试验方法包括两种：周期性试验和连续试验。周期性试验是指将半导体器件放置在盐雾环境中，每隔一定时间取出进行检测，以评估其耐腐蚀性能和可靠性。连续试验是指将半导体器件放置在盐雾环境中，不断进行检测，直到其失效为止。

在试验条件方面，IEC 60749-13:2002标准规定了盐雾试验室的要求，包括试验室的温度、湿度、盐雾浓度等。同时，还规定了半导体器件的试验方法和试验条件，如试验时间、试验温度、试验湿度、试验盐雾浓度等。

通过IEC 60749-13:2002标准的试验，可以评估半导体器件在盐雾环境下的耐腐蚀性能和可靠性，为半导体器件的设计和生产提供参考依据。

相关标准
- IEC 60749-1:1999 半导体器件机械和气候试验方法第1部分：一般原则
- IEC 60749-2:1999 半导体器件机械和气候试验方法第2部分：机械试验
- IEC 60749-3:1999 半导体器件机械和气候试验方法第3部分：气候试验
- IEC 60749-4:1999 半导体器件机械和气候试验方法第4部分：温度循环试验
- IEC 60749-5:1999 半导体器件机械和气候试验方法第5部分：湿度试验