IEC 60749-6:2002是半导体器件测试的一部分，旨在评估半导体器件在高温环境下的存储能力。该标准规定了测试方法和测试条件，以确保半导体器件在高温环境下的可靠性和稳定性。

该标准要求将半导体器件存放在高温环境下，以评估其在高温环境下的稳定性和可靠性。测试温度应在125℃至175℃之间，测试时间应在1000小时至2000小时之间。在测试期间，应定期检查半导体器件的性能和外观，以确定其是否受到高温环境的影响。

IEC 60749-6:2002还规定了测试样品的数量和选择方法。测试样品应从不同的批次中选择，以确保测试结果的可靠性和代表性。测试样品的数量应根据半导体器件的类型和应用确定。

此外，该标准还规定了测试结果的评估方法。测试结果应根据半导体器件的性能和外观进行评估。如果半导体器件的性能和外观没有受到高温环境的影响，则测试结果为合格。如果半导体器件的性能和外观受到高温环境的影响，则测试结果为不合格。

总之，IEC 60749-6:2002是一项重要的半导体器件测试标准，可以评估半导体器件在高温环境下的存储能力。该标准的实施可以确保半导体器件在高温环境下的可靠性和稳定性，从而提高半导体器件的质量和可靠性。

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