IEC 61967-4:2002
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 ohm/150 ohm direct coupling method
发布时间：2002-04-30 实施时间：


IEC 61967-4:2002是一项非常重要的标准，它主要针对集成电路在使用过程中产生的电磁辐射进行测量和控制。电磁辐射是指电子设备在工作时所产生的电磁波，这些电磁波会对周围环境和其他设备产生干扰，甚至会对人体健康造成影响。因此，对于集成电路的电磁辐射进行测量和控制是非常必要的。

IEC 61967-4:2002主要针对150 kHz至1 GHz频段内的传导辐射进行测量，采用1欧姆/150欧姆直接耦合方法。该方法是通过将被测集成电路与测试设备之间直接耦合，以测量集成电路产生的传导辐射。该标准规定了测试方法、测试设备和测试程序，以确保测试结果的准确性和可重复性。

在进行测试时，需要使用专门的测试设备，包括信号发生器、功率放大器、滤波器、天线等。测试程序包括预处理、测试、数据处理和结果分析等步骤。通过对测试结果的分析，可以确定集成电路产生的传导辐射是否符合相关标准和要求。

IEC 61967-4:2002的实施可以有效地控制集成电路的电磁辐射，保证其在使用过程中不会对周围环境和其他设备产生干扰。同时，该标准也可以为集成电路的设计和制造提供参考，以确保其符合相关的电磁兼容性要求。

相关标准
- IEC 61967-1:2002 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz，第1部分：总则和定义
- IEC 61967-2:2002 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz，第2部分：辐射测量
- IEC 61967-3:2002 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz，第3部分：辐射测量的校准
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