IEC 60444-8:2003
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
发布时间:2003-07-04 实施时间:


表面贴装石英晶体元件是现代电子产品中广泛使用的一种元件,其精度和稳定性对于电子产品的性能和可靠性至关重要。为了确保表面贴装石英晶体元件的质量和性能,需要对其进行精确的测量和测试。而测试夹具作为测试过程中的重要组成部分,其设计和制造质量直接影响测试结果的准确性和可重复性。

IEC 60444-8:2003标准规定了表面贴装石英晶体元件测试夹具的设计、制造和使用要求。该标准要求测试夹具应具有良好的机械稳定性和电学性能,以确保测试结果的准确性和可重复性。测试夹具的设计应考虑到石英晶体元件的尺寸、形状和电学特性等因素,以确保测试夹具与石英晶体元件之间的匹配度和接触质量。

IEC 60444-8:2003标准还规定了测试夹具的制造要求,包括材料、加工工艺和表面处理等方面。测试夹具应采用高质量的材料,如不锈钢、铜等,以确保其机械稳定性和电学性能。测试夹具的加工工艺应符合高精度要求,以确保测试夹具的精度和稳定性。测试夹具的表面处理应采用防腐蚀、防氧化等措施,以确保测试夹具的使用寿命和稳定性。

IEC 60444-8:2003标准还规定了测试夹具的使用要求,包括测试夹具的安装、连接和使用等方面。测试夹具应正确安装和连接,以确保测试夹具与测试仪器之间的匹配度和接触质量。测试夹具的使用应符合标准要求,包括测试夹具的使用环境、温度、湿度等方面的要求。

总之,IEC 60444-8:2003标准规定了表面贴装石英晶体元件测试夹具的设计、制造和使用要求,以确保测试结果的准确性和可重复性。该标准对于保证表面贴装石英晶体元件的质量和性能具有重要意义。

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