半导体器件是现代电子技术中不可或缺的组成部分，其性能和可靠性对于电子产品的质量和寿命有着至关重要的影响。在半导体器件的生产和使用过程中，标记是非常重要的，它可以帮助用户识别器件的型号、批次和生产厂家等信息。然而，在不同的环境条件下，标记的持久性可能会受到影响，这会给用户带来不便和误解。因此，标记的持久性测试是非常必要的。

IEC 60749-9:2002/COR1:2003 标准规定了半导体器件在不同的环境条件下，标记应该保持多长时间的要求。这些环境条件包括高温、低温、湿度、气压等。标准要求在这些环境条件下，标记应该保持清晰可见，不褪色、不模糊、不掉落。标准还规定了测试的方法和设备，以确保测试的准确性和可重复性。

标记的持久性测试是半导体器件可靠性测试的重要组成部分。通过测试，可以评估器件在不同环境条件下的耐久性和稳定性，为用户提供更可靠的产品。此外，标记的持久性测试也是半导体器件生产和质量控制的重要手段，可以帮助生产厂家发现和解决生产过程中的问题，提高产品的质量和可靠性。

相关标准
- IEC 60749-1:1999 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
- IEC 60749-2:1999 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Unbiased steady-state temperature and power cycling
- IEC 60749-3:1999 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: High temperature storage life
- IEC 60749-4:1999 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Temperature, humidity, bias (THB) life test
- IEC 60749-5:1999 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Resistance to soldering heat