IEC 60749-12:2002/COR1:2003
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
发布时间:2003-08-13 实施时间:


IEC 60749-12:2002/COR1:2003标准主要包括以下内容:

1. 试验设备和试验方法:该标准规定了振动试验设备的要求和试验方法,包括振动台、振动器、加速度计等。同时,还规定了可变频率试验设备的要求和试验方法,包括可变频率振动台、可变频率振动器等。

2. 试验条件:该标准规定了振动试验和可变频率试验的试验条件,包括振动方向、振动幅值、振动频率等。同时,还规定了试验温度、湿度等气候条件。

3. 试验程序:该标准规定了振动试验和可变频率试验的试验程序,包括试验前的准备工作、试验过程中的监测和记录、试验后的评估等。

4. 试验结果的评估:该标准规定了振动试验和可变频率试验的试验结果的评估方法,包括振动试验后的外观检查、电性能测试等。

该标准的实施可以帮助半导体器件制造商和使用者评估半导体器件在运输、存储和使用过程中的可靠性和耐久性,从而提高产品的质量和可靠性。

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