IEC 60749-30:2005

半导体器件机械和气候试验方法第30部分：可靠性测试前非密封表面贴装器件的预处理

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

标准号

IEC 60749-30:2005

发布日期

2005-01-20

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