集成电路是现代电子设备中不可或缺的组成部分，但是它们在工作时会产生电磁辐射，这可能会对周围的电子设备和系统造成干扰。因此，对集成电路的电磁辐射进行测量和控制是非常重要的。

IEC TS 61967-3:2005标准主要针对150 KHz至1 GHz频段内的辐射发射测量，采用表面扫描法进行测量。表面扫描法是一种非接触式的测量方法，通过在集成电路表面扫描探测器来测量电磁辐射。该方法可以测量集成电路在不同频率下的辐射发射，从而确定其电磁兼容性。

IEC TS 61967-3:2005标准规定了测量的方法和程序，包括测试设备的选择和校准、测试环境的设置、测试样品的准备和放置、测试参数的选择和测量结果的处理等。该标准还提供了一些参考值和限制值，以便评估测试结果的合理性和可靠性。

IEC TS 61967-3:2005标准适用于各种类型的集成电路，包括数字电路、模拟电路、混合信号电路和射频电路等。该标准还适用于各种应用领域，包括通信、计算机、汽车、医疗设备等。

总之，IEC TS 61967-3:2005标准为集成电路电磁辐射测量提供了一种标准化的方法，可以帮助各种实验室和测试设备之间进行比较和验证，从而提高测试结果的可靠性和准确性。

相关标准
- IEC 61000-4-3:2006 电磁兼容性（EMC）-第4-3部分：测试和测量技术-辐射电场试验
- IEC 61000-4-20:2008 电磁兼容性（EMC）-第4-20部分：测试和测量技术-电力频率磁场试验
- IEC 62132-1:2017 半导体器件-电磁兼容性（EMC）-第1部分：半导体器件的测量和模拟方法
- IEC 62433-2:2019 半导体器件-电磁兼容性（EMC）-第2部分：半导体器件的模型和参数提取方法
- CISPR 16-1-4:2019 无线电干扰和抗干扰测量设备和测量方法-第16-1-4部分：无线电干扰和抗干扰测量设备和测量方法-辐射和传导测量设备的规范