IEC 61967-4:2002+AMD1:2006 CSV
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method
发布时间：2006-07-27 实施时间：
IEC 61967-4:2002+AMD1:2006 CSV是一项国际标准，适用于集成电路电磁辐射测量领域。该标准主要针对150 kHz至1 GHz范围内的传导辐射测量，采用1Ω/150Ω直接耦合方法进行测量。该标准规定了测量方法、测量设备、测量环境等方面的要求，以确保测量结果的准确性和可靠性。
该标准要求在测量前应对测量设备进行校准，并对测量环境进行评估，以确保测量结果的准确性。在测量过程中，应采用1Ω/150Ω直接耦合方法进行测量，并对测量结果进行记录和分析。同时，该标准还规定了测量结果的报告要求，以便于结果的分析和比较。
IEC 61967-4:2002+AMD1:2006 CSV标准的实施，可以有效地评估集成电路在150 kHz至1 GHz范围内的传导辐射情况，为集成电路的设计和生产提供重要的参考依据。同时，该标准的实施还可以促进国际间的技术交流和合作，推动集成电路电磁辐射测量技术的发展和进步。
相关标准
- IEC 61967-1:2002 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz，第1部分：总则和定义
- IEC 61967-2:2002 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz，第2部分：测量设备和测量方法
- IEC 61967-3:2002 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz，第3部分：辐射测量
- IEC 61967-5:2002 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz，第5部分：传导和辐射测量的结果的报告
- IEC 61967-6:2002 集成电路电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz，第6部分：传导和辐射测量的结果的比较