IEC 60068-2-20:2008
Environmental testing - Part 2-20: Tests - Test T: Test methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads
发布时间:2008-07-21 实施时间:


IEC 60068-2-20:2008标准主要适用于具有引线器件的电子元器件,如电阻器、电容器、二极管等。在电子元器件的生产和使用过程中,焊接是一项非常重要的工艺,因为焊接的质量直接影响到电子元器件的可靠性和稳定性。因此,对于具有引线器件的电子元器件,需要进行可焊性和耐焊热性试验,以确保其在焊接过程中的性能和质量。

IEC 60068-2-20:2008标准规定了测试设备、测试方法和测试条件。测试设备包括焊接设备、测试样品支架、温度计等。测试方法包括焊接试验和耐焊热试验。焊接试验主要是测试电子元器件的可焊性,包括焊接前的表面处理、焊接过程中的温度和时间等。耐焊热试验主要是测试电子元器件的耐热性,包括在高温下的保持时间和温度等。

IEC 60068-2-20:2008标准中规定了测试条件,包括焊接温度、焊接时间、保持时间、冷却时间等。这些条件是根据电子元器件的特性和使用环境来确定的,以确保测试结果的可靠性和准确性。

通过可焊性和耐焊热性试验,可以评估电子元器件在焊接过程中的性能和质量,从而提高电子元器件的可靠性和稳定性。同时,该标准也为电子元器件的生产和使用提供了一定的指导和保障。

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