光学存储卡是一种使用光学记录技术进行数据存储的存储介质。与传统的磁性存储介质相比，光学存储卡具有存储容量大、读写速度快、数据可靠性高等优点。全息记录方法是一种常用的光学记录技术，它可以将数据以全息图案的形式记录在光学存储介质上，从而实现高密度的数据存储。

ISO/IEC 11695-3:2008规定了光学存储卡的全息记录方法，包括全息图案的制作、读取和解码等方面的要求。该标准要求全息图案的制作应符合一定的几何尺寸和光学特性要求，以确保全息图案的稳定性和可读性。全息图案的读取和解码也需要满足一定的要求，以确保数据的准确性和可靠性。

此外，ISO/IEC 11695-3:2008还规定了光学存储卡的光学特性和特征，包括反射率、透过率、散射率、色散、折射率等方面的要求。这些光学特性和特征对于光学存储卡的性能和可靠性具有重要的影响。例如，反射率和透过率的要求直接影响了光学存储卡的读写速度和数据可靠性；散射率和色散的要求则直接影响了光学存储卡的信噪比和数据恢复能力。

总之，ISO/IEC 11695-3:2008是一项关于光学存储卡的重要标准，它规定了光学存储卡的全息记录方法和光学特性要求，为光学存储卡的设计、制造和应用提供了重要的参考依据。

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