IEC 62149-2:2009 标准主要适用于850 nm离散垂直腔面发射激光器器件，该类器件是一种用于光纤通信和光纤传感器等领域的重要元件。该标准规定了该类器件的性能要求和测试方法，包括以下方面：

1. 光电参数：包括光功率、阈值电流、工作电流、峰值波长、谱宽等参数的测试方法和要求。

2. 电学参数：包括正向电压、反向电流、串联电阻等参数的测试方法和要求。

3. 可靠性：包括温度循环、湿热循环、高温存储、低温存储等测试方法和要求。

4. 其他参数：包括发射角度、光谱纯度、光谱漂移等参数的测试方法和要求。

该标准的实施可以保证850 nm离散垂直腔面发射激光器器件在实际应用中的可靠性和稳定性，同时也为该类器件的生产和质量控制提供了参考依据。

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