IEC 61000-4-20:2010
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
发布时间:2010-08-31 实施时间:


IEC 61000-4-20:2010标准主要涉及电磁兼容性测试和测量技术,旨在确保电子设备在电磁环境中的正常运行和互操作性。该标准主要应用于横向电磁波导中的辐射和抗扰度测试,以评估电子设备的电磁兼容性。

该标准规定了测试方法和测量技术,包括测试设备的选择、测试环境的建立、测试过程的控制等。其中,测试设备的选择是非常重要的,需要根据被测试设备的特性和测试要求来选择合适的测试设备。测试环境的建立也是关键,需要保证测试环境的稳定性和可重复性,以确保测试结果的准确性和可靠性。测试过程的控制也是必要的,需要对测试过程进行严格的控制和监测,以避免测试误差和不确定性。

IEC 61000-4-20:2010标准适用于各种类型的电子设备,包括计算机、通信设备、工业控制设备等。该标准的主要目的是评估电子设备在电磁环境中的抗扰度和辐射水平,以确保设备在正常运行和互操作性方面的性能。

除了横向电磁波导中的辐射和抗扰度测试,IEC 61000-4-20:2010标准还包括其他测试方法和测量技术,如传导干扰测试、辐射干扰测试、电源线干扰测试等。这些测试方法和测量技术可以帮助评估电子设备在不同电磁环境下的性能和可靠性。

总之,IEC 61000-4-20:2010标准是一项非常重要的电磁兼容性测试和测量技术标准,可以帮助评估电子设备在电磁环境中的抗扰度和辐射水平,以确保设备在正常运行和互操作性方面的性能。

相关标准
- IEC 61000-4-2:2008 电磁兼容性测试和测量技术——静电放电抗扰度测试
- IEC 61000-4-3:2006 电磁兼容性测试和测量技术——辐射抗扰度测试
- IEC 61000-4-4:2012 电磁兼容性测试和测量技术——传导抗扰度测试
- IEC 61000-4-5:2014 电磁兼容性测试和测量技术——瞬变抗扰度测试
- IEC 61000-4-6:2013 电磁兼容性测试和测量技术——传导干扰抗扰度测试