随着工业自动化的不断发展，工业环境中的电子设备数量不断增加，这些设备产生的电磁辐射也越来越严重。这些电磁辐射可能会对其他设备和系统产生干扰，从而影响设备的正常运行。为了解决这些问题，IEC 61000-6-4:2006+AMD1:2010 CSV标准应运而生。

该标准规定了工业环境中电子设备所产生的电磁辐射的限制和测量方法。其中，限制部分包括了辐射限值和频率范围，以确保设备之间的互操作性和电磁兼容性。测量方法部分则规定了测量设备和测量程序，以确保测量结果的准确性和可重复性。

IEC 61000-6-4:2006+AMD1:2010 CSV标准适用于所有工业环境中的电子设备，包括但不限于工业自动化设备、机器人、电力设备、通信设备等。该标准的实施可以有效地减少工业环境中的电磁干扰，提高设备的可靠性和稳定性，从而提高生产效率和产品质量。

除了规定电磁辐射限制和测量方法外，IEC 61000-6-4:2006+AMD1:2010 CSV标准还规定了一些其他的要求，包括设备标识、技术文件、测试报告等。这些要求可以帮助设备制造商和使用者更好地了解和控制电磁辐射问题，从而提高设备的电磁兼容性和可靠性。

相关标准
- IEC 61000-4-2:2008 电磁兼容性 - 第4-2部分：一般标准 - 静电放电（ESD）免疫性试验
- IEC 61000-4-3:2006+AMD1:2007+AMD2:2010 CSV 电磁兼容性 - 第4-3部分：一般标准 - 射频辐射免疫性试验
- IEC 61000-4-4:2012 电磁兼容性 - 第4-4部分：一般标准 - 瞬变传导免疫性试验
- IEC 61000-4-5:2014 电磁兼容性 - 第4-5部分：一般标准 - 瞬变电压耐受性试验
- IEC 61000-4-6:2013 电磁兼容性 - 第4-6部分：一般标准 - 低频磁场免疫性试验