航空电子系统在飞行过程中会受到来自太阳和宇宙射线的辐射,这些辐射会导致单事件效应(SEE),例如位翻转、电荷收集和电荷共享等。这些效应可能会导致航空电子系统的故障或失效,从而影响飞行安全。因此,对航空电子系统进行大气辐射效应的单事件效应测试是非常重要的。
IEC 62396-2:2012 标准提供了一种方法,以评估航空电子系统在大气辐射环境下的可靠性和安全性。该标准包括以下内容:
1. 定义单事件效应测试的目的和范围;
2. 描述单事件效应测试的方法和程序;
3. 提供单事件效应测试的数据分析和评估方法;
4. 提供单事件效应测试结果的报告要求。
该标准适用于航空电子系统的设计、开发、测试和维护。在航空电子系统的设计和开发阶段,应该进行单事件效应测试,以评估系统的可靠性和安全性。在航空电子系统的测试和维护阶段,也应该进行单事件效应测试,以确保系统的性能和可靠性。
IEC 62396-2:2012 标准的实施可以提高航空电子系统的可靠性和安全性,减少系统故障和失效的风险,从而提高飞行安全。该标准还可以促进航空电子系统的国际标准化和规范化,为航空电子系统的设计、开发、测试和维护提供统一的标准和方法。
相关标准
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- IEC 62396-3:2013 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 3: Single event effects in avionics - Mitigation techniques
- IEC 62396-4:2014 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 4: Design considerations
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