石英晶体元件是电子设备中常用的元器件之一，其性能参数的准确测量对于电子设备的正常运行至关重要。其中，驱动电平依赖性（DLD）是石英晶体元件的一个重要参数，它描述了石英晶体元件的频率稳定度随着驱动电平的变化而发生的变化。因此，测量石英晶体元件的DLD是石英晶体元件性能评估的重要环节。

IEC 60444-6:2013标准规定了测量石英晶体元件DLD的方法和程序。该标准要求使用特定的测试设备和测试方法，以确保测量结果的准确性和可重复性。具体来说，该标准要求使用特定的测试电路和测试信号，以及特定的测试温度和测试电平范围。在测试过程中，需要记录石英晶体元件的频率稳定度随着驱动电平的变化而发生的变化，并绘制出DLD曲线。通过分析DLD曲线，可以评估石英晶体元件的DLD性能，并确定其适用范围。

需要注意的是，IEC 60444-6:2013标准规定了测量石英晶体元件DLD的方法和程序，但并未规定石英晶体元件的DLD性能指标。因此，在实际应用中，需要根据具体的应用要求和设备特性，确定石英晶体元件的DLD性能指标，并进行相应的测试和评估。

相关标准
- IEC 60444-1:2010 石英晶体元件参数的测量-第1部分：一般原则
- IEC 60444-2:2013 石英晶体元件参数的测量-第2部分：频率和频率稳定度
- IEC 60444-3:2013 石英晶体元件参数的测量-第3部分：等效电路参数
- IEC 60444-4:2013 石英晶体元件参数的测量-第4部分：温度特性
- IEC 60444-5:2013 石英晶体元件参数的测量-第5部分：机械特性