随着数字化时代的到来，数字信息的存储和交换变得越来越重要。光盘作为一种常见的数字记录媒介，被广泛应用于数据存储和交换。然而，光盘的寿命是有限的，长期存储的数据可能会受到损坏或丢失。因此，为了确保长期数据存储的可靠性，需要对光盘的寿命进行估计。

ISO/IEC 16963:2015标准规定了一种可靠的光盘寿命估计测试方法。该测试方法包括以下步骤：

1. 选择测试样本：从同一批次的光盘中选择一定数量的样本进行测试。

2. 测试条件：将光盘放置在恒温恒湿的环境中，进行加速老化测试。测试条件为温度和湿度的组合，以及测试时间。

3. 测试结果：在测试结束后，对光盘进行读取测试，记录测试结果。测试结果包括读取成功率、读取时间和错误率等。

4. 寿命估计：根据测试结果，使用适当的寿命模型来估计光盘的寿命。

该测试方法的优点在于，它可以在相对短的时间内估计光盘的寿命，从而为长期数据存储提供可靠的保障。此外，该测试方法还可以用于评估不同品牌和型号的光盘的寿命，以便用户选择最适合自己需求的光盘。

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