IEC 61967-4:2002/COR1:2017
Corrigendum 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 ?/150 ? direct coupling method
发布时间:2017-06-29 实施时间:


IEC 61967-4:2002/COR1:2017 校正版是一项关于集成电路电磁辐射测量的标准,主要针对150 kHz至1 GHz频段内的传导辐射测量,采用1 Ω/150 Ω直接耦合法进行测量。该标准规定了测量方法、测量设备、测量环境和测量结果的处理等方面的要求,以确保测量结果的准确性和可靠性。

该标准要求在测量前应对测量设备进行校准,并在测量过程中对测量环境进行控制,以消除外界干扰对测量结果的影响。同时,该标准还规定了测量结果的处理方法,包括对测量数据进行滤波、平均和归一化等处理,以得到准确的测量结果。

此外,该标准还规定了测量结果的报告要求,包括测量条件、测量结果和测量设备等方面的信息,以便于对测量结果进行分析和比较。

总之,IEC 61967-4:2002/COR1:2017 校正版是一项非常重要的标准,对于保证集成电路的电磁兼容性具有重要意义。通过遵循该标准的要求,可以得到准确可靠的测量结果,为集成电路的设计和生产提供有力的支持。

相关标准
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- IEC 61967-2:2002 集成电路- 电磁辐射测量,150 kHz至1 GHz- 第2部分:辐射发射测量
- IEC 61967-3:2002 集成电路- 电磁辐射测量,150 kHz至1 GHz- 第3部分:辐射抑制测量
- IEC 61967-5:2002 集成电路- 电磁辐射测量,150 kHz至1 GHz- 第5部分:传导发射测量
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