超导技术是一种在低温下材料表现出完全无电阻和完全磁通排斥的现象。超导体的性能指标包括临界温度、临界电流密度、残余电阻比等。残余电阻比是指超导体在超导状态和正常状态下电阻的比值，是评估超导体性能的重要指标之一。残余电阻比越高，超导体的性能越好。

IEC 61788-23:2018规定了测量Nb超导体残余电阻比的方法和要求。该标准适用于Nb超导体的残余电阻比测量，包括Nb-Ti合金和Nb3Sn合金。测量方法包括四线法和两线法。四线法适用于低残余电阻比的超导体，两线法适用于高残余电阻比的超导体。测量时需要考虑温度、磁场、电流等因素的影响，并进行相应的校准和修正。

IEC 61788-23:2018对测量设备和测量过程进行了详细的要求和说明。测量设备需要满足一定的精度和稳定性要求，测量过程需要进行多次测量并取平均值。此外，标准还对测量结果的处理和报告进行了规定，包括数据处理、误差分析和结果报告等。

IEC 61788-23:2018的发布对于超导体的生产和应用具有重要意义。通过该标准的实施，可以保证超导体的性能指标得到准确、可靠的评估，为超导技术的发展和应用提供有力支持。

相关标准
- IEC 61788-1:2011 超导技术 第1部分：术语和通用要求
- IEC 61788-4:2011 超导技术 第4部分：临界电流密度测量
- IEC 61788-6:2011 超导技术 第6部分：临界温度测量
- IEC 61788-7:2011 超导技术 第7部分：交流损耗测量
- IEC 61788-8:2011 超导技术 第8部分：磁滞损耗测量