电子元器件是现代电子技术的基础，广泛应用于各种电子产品中。为了保证电子产品的质量和可靠性，需要对电子元器件进行可靠性试验。GB/T 8391-2007是一项针对电子元器件可靠性试验方法的标准，该标准规定了电子元器件可靠性试验的基本要求、试验方法、试验条件、试验结果的评定等内容。

该标准规定了电子元器件可靠性试验的基本要求，包括试验目的、试验对象、试验方法、试验条件、试验结果的评定等。其中，试验方法包括环境试验、物理试验、电性能试验、可靠性试验等。试验条件包括温度、湿度、气压、振动、冲击、电压、电流等。试验结果的评定包括试验数据的处理、试验结果的判定、试验报告的编制等。

在具体的试验方法中，该标准规定了各种试验的具体步骤和要求。例如，在环境试验中，要求将电子元器件置于不同的环境条件下进行试验，包括高温、低温、高湿、低湿、高温高湿、低温低湿等。在物理试验中，要求对电子元器件进行振动、冲击、落地等试验。在电性能试验中，要求对电子元器件的电性能进行测试，包括电阻、电容、电感、电压、电流等。

该标准的实施可以保证电子元器件的可靠性和稳定性，提高电子产品的质量和可靠性。同时，该标准也为电子元器件的生产和使用提供了技术支持和保障。

相关标准
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分：试验Db：振动试验
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分：试验Eb：冲击试验