电真空器件和电光源是电子工业中常用的器件，其性能的优劣直接影响到整个电子设备的质量和性能。而钨、钼材料是电真空器件和电光源中常用的材料，其电阻率的测试是材料性能测试的重要内容之一。本标准旨在规定电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法，以保证测试结果的准确性和可靠性。

1. 范围
本标准适用于电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试。

2. 仪器设备
2.1 电桥：使用精度不低于0.1%的交流电桥。
2.2 电源：使用稳定性好、纹波小的直流电源。
2.3 电流表：使用精度不低于0.1%的电流表。
2.4 温度计：使用精度不低于0.5℃的温度计。

3. 样品制备
3.1 样品应制备成直径为1mm、长度为10mm的棒状样品。
3.2 样品应经过充分的热处理，以消除内部应力和晶界的影响。

4. 测试方法
4.1 测量电桥的灵敏度和平衡灵敏度。
4.2 将样品置于恒温槽中，使其温度稳定在20℃±0.5℃。
4.3 将样品连接到电桥上，调节电源电压，使电流通过样品，记录电流值和电桥示数。
4.4 改变样品温度，重复步骤4.3，记录电流值和电桥示数。
4.5 根据测量结果计算样品的电阻率。

5. 结果表示
5.1 测量结果应取三次平均值。
5.2 结果应表示为样品在20℃时的电阻率。

6. 注意事项
6.1 样品应制备成直径为1mm、长度为10mm的棒状样品，以保证测试结果的准确性。
6.2 样品应经过充分的热处理，以消除内部应力和晶界的影响。
6.3 测量时应保证电桥、电源、电流表等仪器设备的稳定性和精度。
6.4 测量时应保证样品温度的稳定性和精度。

相关标准
GB/T 3877-2006 电子用钨丝
GB/T 3878-2006 电子用钼丝
GB/T 3879-2006 电子用钨片
GB/T 3880-2006 电子用钼片
GB/T 3881-2006 电子用钨棒