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GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定是一项用于测定微电子技术用贵金属浆料附着力的标准。该标准规定了测试方法，适用于微电子技术用贵金属浆料附着力的测定。

该标准主要包括以下内容：

1.范围

本标准适用于微电子技术用贵金属浆料附着力的测定。

2.引用标准

本标准引用了以下标准：

GB/T 2828.1-2003 采样程序第1部分：按比例抽样程序

GB/T 2829-2002 检验抽样程序及表格的使用

GB/T 8170-2008 数值舍入规则及其在计算中的应用

3.术语和定义

本标准中使用的术语和定义与GB/T 2828.1-2003和GB/T 2829-2002中的术语和定义相同。

4.测试方法

4.1 试样的制备

试样的制备应符合GB/T 2828.1-2003中的规定。

4.2 试验设备

试验设备应符合GB/T 2829-2002中的规定。

4.3 试验步骤

（1）将试样固定在试验台上。

（2）将贵金属浆料涂覆在试样表面。

（3）将试样放入恒温恒湿箱中，在规定的温度和湿度下进行固化。

（4）将试样放入试验设备中，进行附着力测试。

4.4 试验结果的计算

试验结果的计算应符合GB/T 8170-2008中的规定。

相关标准：
GB/T 2828.1-2003 采样程序第1部分：按比例抽样程序

GB/T 2829-2002 检验抽样程序及表格的使用

GB/T 8170-2008 数值舍入规则及其在计算中的应用

GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 一般规定

GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 电性能测定