GB/T 22660.6-2008
氟化锂化学分析方法 第6部分: 二氧化硅含量的测定 钼蓝分光光度法
发布时间:2008-12-29 实施时间:2009-11-01


氟化锂是一种重要的化工原料,广泛应用于电子、冶金、化工等领域。在氟化锂的生产和应用过程中,二氧化硅是一种常见的杂质,其含量的高低会影响氟化锂的质量和性能。因此,准确测定氟化锂中二氧化硅的含量对于保证氟化锂的质量和性能具有重要意义。

本标准采用钼蓝分光光度法测定氟化锂中二氧化硅的含量。该方法的原理是:将氟化锂样品中的二氧化硅与硫酸反应生成硅酸,再将硅酸与钼酸反应生成钼酸硅酸盐,钼酸硅酸盐在酸性条件下呈现蓝色,其吸收峰位在660nm处,利用分光光度计测定其吸光度,根据标准曲线计算出样品中二氧化硅的含量。

本标准的具体操作步骤如下:

1. 取适量氟化锂样品,加入适量硫酸,加热至沸腾,使样品中的二氧化硅与硫酸反应生成硅酸。

2. 冷却后,加入适量钼酸溶液,使硅酸与钼酸反应生成钼酸硅酸盐。

3. 加入适量稀硫酸,使钼酸硅酸盐在酸性条件下呈现蓝色。

4. 用分光光度计测定样品的吸光度,根据标准曲线计算出样品中二氧化硅的含量。

本标准的测定范围为0.001%~0.1%。本标准的测定结果应在0.001%以下时,报告结果应四舍五入至0.0001%。

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