高纯氧化铟是一种重要的半导体材料，广泛应用于电子、光电、光学等领域。其中锡是高纯氧化铟中的主要杂质之一，其含量的测定对于高纯氧化铟的质量控制至关重要。本标准规定了一种苯基荧光酮分光光度法测定高纯氧化铟中锡量的方法，具有操作简便、准确度高等优点。

1. 原理
高纯氧化铟样品中的锡与苯基荧光酮在酸性介质中反应生成荧光化合物，其荧光强度与锡的含量成正比关系。通过测定荧光强度，可以计算出样品中锡的含量。

2. 试剂和仪器
2.1 试剂
苯基荧光酮、盐酸、乙醇、氯仿、硝酸铟、锡标准溶液等。

2.2 仪器
分光光度计、电热板、磁力搅拌器、量筒、移液管等。

3. 操作步骤
3.1 样品的制备
将高纯氧化铟样品称取0.5g，加入100ml盐酸和10ml硝酸铟，加热至完全溶解，冷却后用水稀释至100ml，摇匀备用。

3.2 标准曲线的绘制
取锡标准溶液，分别加入不同体积的氯仿，用乙醇稀释至10ml，测定其荧光强度，绘制标准曲线。

3.3 样品的测定
取经过稀释的样品溶液，用乙醇稀释至10ml，测定其荧光强度，并根据标准曲线计算出锡的含量。

4. 结果计算
样品中锡的含量，按下式计算：
C（Sn）=（A-B）/k
其中，C（Sn）为锡的含量（mg/L），A为样品的荧光强度，B为空白的荧光强度，k为标准曲线的斜率。

5. 结果的表达
样品中锡的含量，保留两位小数，单位为mg/kg。

相关标准
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