高纯氧化铟是一种重要的半导体材料，广泛应用于电子、光电、磁学等领域。其中，锑是高纯氧化铟中的一种杂质元素，其含量对高纯氧化铟的性能有着重要的影响。因此，准确测定高纯氧化铟中锑的含量，对于保证高纯氧化铟的质量和性能具有重要意义。

本标准采用原子荧光光谱法进行高纯氧化铟中锑量的测定。该方法具有灵敏度高、准确度高、重现性好等优点，能够满足高纯氧化铟中锑量的测定要求。

具体操作步骤如下：

1. 样品的制备

将高纯氧化铟样品称取一定量，加入适量的氢氟酸和硝酸，加热至完全溶解，转移至100 mL 容量瓶中，用去离子水定容至刻度线。

2. 仪器的准备

将原子荧光光谱仪预热至稳定状态，调整仪器参数，使其符合测定要求。

3. 样品的测定

将样品溶液注入原子荧光光谱仪中，进行锑元素的测定。根据仪器的测定结果，计算出样品中锑的含量。

4. 结果的计算

根据测定结果，计算出样品中锑的含量。计算公式如下：

锑含量（mg/kg）=（C×V）/m

其中，C为锑元素的浓度，单位为mg/L；V为样品溶液的体积，单位为mL；m为样品的质量，单位为g。

相关标准
GB/T 23364.1-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第1部分：总量的测定 火焰原子吸收光谱法
GB/T 23364.2-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第2部分：铜量的测定 电感耦合等离子体质谱法
GB/T 23364.4-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第4部分：铁量的测定 电感耦合等离子体质谱法
GB/T 23364.5-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第5部分：铅量的测定 电感耦合等离子体质谱法
GB/T 23364.6-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第6部分：镉量的测定 电感耦合等离子体质谱法