高纯氧化铟是一种重要的无机材料，广泛应用于半导体、光电子、涂料等领域。其中氯是高纯氧化铟中的一种重要杂质，其含量的高低直接影响到高纯氧化铟的质量和性能。因此，准确测定高纯氧化铟中氯的含量是非常重要的。

本标准采用硫氰酸汞分光光度法测定高纯氧化铟中氯的含量。该方法的原理是：在弱酸性条件下，氯离子与硫氰酸汞反应生成汞氯离子，汞氯离子与二乙基二硫代氨基甲酸钠（DDTC）形成络合物，络合物在波长为500nm处有最大吸收峰，根据吸光度与氯离子浓度之间的线性关系，可以计算出样品中氯的含量。

本标准适用于高纯氧化铟中氯量的测定，适用于氯含量在0.000 1%~0.1%范围内的样品。

本标准的主要内容包括：仪器和试剂、样品的处理、操作步骤、计算方法、结果表示和分析等。

相关标准
GB/T 23364.1-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第1部分：总量的测定 碘量法
GB/T 23364.2-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第2部分：铁量的测定 邻苯二酚分光光度法
GB/T 23364.3-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第3部分：铜量的测定 二乙基二硫代氨基甲酸钠分光光度法
GB/T 23364.4-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第4部分：铝量的测定 邻苯二酚分光光度法
GB/T 23364.6-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第6部分：硅量的测定 邻苯二酚分光光度法