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高纯氧化铟是一种重要的无机化合物，广泛应用于半导体、光电子、涂料等领域。为了保证高纯氧化铟的质量，需要对其进行化学分析。灼减量是高纯氧化铟的一个重要指标，本标准规定了高纯氧化铟中灼减量的测定方法，采用称量法。

1.范围
本标准适用于高纯氧化铟中灼减量的测定。

2.仪器和试剂
2.1 称量仪
2.2 烘箱
2.3 氧化铟样品
2.4 纯水
2.5 硝酸
2.6 氢氟酸

3.样品的制备
将氧化铟样品加入烘箱中，在105℃下烘干至恒重。

4.操作步骤
4.1 取一定质量的氧化铟样品，称量记录质量m1。
4.2 将样品放入烘箱中，在105℃下烘干至恒重，称量记录质量m2。
4.3 将样品放入烧杯中，加入10ml纯水和2ml硝酸，加热至溶解，转移至锥形瓶中，用纯水定容至100ml。
4.4 取10ml溶液，加入2ml氢氟酸，加热至干燥，称量记录质量m3。
4.5 计算灼减量，公式为：灼减量（%）=（m1-m2-m3）/m1×100%。

5.结果的计算和表示
计算灼减量的平均值，并保留两位小数。结果应该表示为百分数。

6.精密度和准确度
6.1 精密度：在相同条件下，重复测量3次，相对标准偏差不得大于5%。
6.2 准确度：本方法的准确度应符合实际需要。

相关标准：
GB/T 23364.1-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第1部分：总量的测定 火焰原子吸收光谱法
GB/T 23364.2-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第2部分：杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法
GB/T 23364.3-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第3部分：杂质元素的测定 石墨炉原子吸收光谱法
GB/T 23364.4-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第4部分：杂质元素的测定 石墨炉原子荧光光谱法
GB/T 23364.5-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第5部分：杂质元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法