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GB/T 23362.2-2009是一项关于高纯氢氧化铟中锡量测定的标准，采用苯基荧光酮分光光度法进行测定。该标准适用于高纯氢氧化铟中锡量的测定。

高纯氢氧化铟是一种重要的半导体材料，广泛应用于电子、光电、光学等领域。其中锡是高纯氢氧化铟中的重要杂质之一，其含量的高低直接影响到高纯氢氧化铟的质量和性能。因此，准确测定高纯氢氧化铟中锡的含量对于保证高纯氢氧化铟的质量和性能具有重要意义。

本标准采用苯基荧光酮分光光度法进行锡量的测定。该方法的原理是：苯基荧光酮与锡离子形成络合物，形成荧光物质，通过测定荧光强度来计算锡的含量。该方法具有灵敏度高、准确度高、重现性好等优点。

具体操作步骤如下：

1.样品的制备：将高纯氢氧化铟样品称取一定量，加入适量的盐酸和硝酸混合溶液中，加热至完全溶解，冷却后加入适量的氢氧化钠溶液，使溶液呈弱碱性。

2.荧光试剂的制备：将苯基荧光酮溶解在乙醇中，制成荧光试剂。

3.测定：将荧光试剂加入样品中，振荡混合，静置一段时间后，通过荧光光度计测定荧光强度，根据标准曲线计算锡的含量。

需要注意的是，在进行测定前，应先进行荧光试剂的空白试验，以消除荧光试剂本身的荧光信号对测定结果的影响。

相关标准：
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