高纯氢氧化铟是一种重要的半导体材料，广泛应用于光电子、电子学、信息技术等领域。为了保证高纯氢氧化铟的质量，需要对其中的杂质元素进行分析。本标准提供了一种测定高纯氢氧化铟中铝、铁、铜、锌、镉、铅和铊量的方法，即电感耦合等离子体质谱法。

该方法的原理是将高纯氢氧化铟样品溶解后，加入内标元素，然后使用电感耦合等离子体质谱仪进行分析。在质谱仪中，样品中的元素被离子化并加速到高速运动，然后通过磁场和电场进行分离和检测。通过测量样品中元素的离子信号强度，可以计算出其浓度。

本标准详细描述了样品的制备、仪器的操作、分析条件的设置、数据处理等方面的要求。其中，样品的制备需要注意避免污染和损失，仪器的操作需要保证稳定性和准确性，分析条件的设置需要根据具体情况进行优化，数据处理需要进行校正和质量控制。

本标准适用于高纯氢氧化铟中铝、铁、铜、锌、镉、铅和铊量的测定，适用范围为0.001~10 μg/g。该方法具有灵敏度高、准确性好、重现性高等优点，可以满足高纯氢氧化铟质量控制的需要。

相关标准
GB/T 23362.1-2009 高纯氢氧化铟化学分析方法 第1部分：总量的测定 火焰原子吸收光谱法
GB/T 23362.2-2009 高纯氢氧化铟化学分析方法 第2部分：总量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
GB/T 23362.3-2009 高纯氢氧化铟化学分析方法 第3部分：总量的测定 电感耦合等离子体质谱法
GB/T 23362.5-2009 高纯氢氧化铟化学分析方法 第5部分：总量的测定 石墨炉原子吸收光谱法
GB/T 23362.6-2009 高纯氢氧化铟化学分析方法 第6部分：总量的测定 石墨炉原子荧光光谱法