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GB/T 4325.12-2013 钼化学分析方法 第12部分：硅量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法是一项用于测定钼化学分析中硅量的标准。该标准规定了使用电感耦合等离子体原子发射光谱法进行硅量测定的方法。

该标准适用于钼及其合金中硅量的测定。测定范围为0.0005%~0.5%。该标准要求使用的仪器和设备应符合相关的国家标准或行业标准。

在进行硅量测定前，需要对样品进行前处理。样品前处理的方法应根据不同的样品类型进行选择。在样品前处理过程中，需要注意避免样品受到污染或损失。

在进行硅量测定时，需要根据样品的不同特点选择合适的分析条件。分析条件包括激发源、分析线、背景校正、校正曲线等。在进行硅量测定时，需要进行背景校正，以提高测定的准确性。

该标准还规定了硅量测定的计算方法。硅量的计算应根据校正曲线进行，计算结果应按照规定的精确度进行四舍五入。

相关标准：
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GB/T 4325.2-2013 钼化学分析方法 第2部分：总量的测定 碘化钾电位滴定法
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GB/T 4325.5-2013 钼化学分析方法 第5部分：总量的测定 钼酸铵重量法