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一、范围
本标准适用于电阻法测复合超导体临界温度的测量方法和要求。

二、术语和定义
本标准中使用的术语和定义与GB/T 31779-2015《超导材料术语和定义》相同。

三、测量原理
电阻法测量复合超导体临界温度的原理是：在复合超导体的正常态和超导态之间，存在一个渐进的电阻变化区域，该区域的电阻随温度的升高而逐渐减小，当温度升高到一定值时，电阻急剧下降，这个温度就是复合超导体的临界温度。

四、仪器设备
电阻法测量复合超导体临界温度需要的仪器设备包括：温度控制装置、电流源、电压源、电阻计、温度计等。

五、试样制备
试样应按照GB/T 31779-2015的要求制备。

六、测量方法
1.试样应先在正常态下进行预冷却，然后在超导态下进行加热，记录温度和电阻值。
2.在加热过程中，应保证电流和电压的稳定，以保证测量的准确性。
3.当电阻值下降到一定程度时，应停止加热，记录此时的温度和电阻值，即为复合超导体的临界温度。

七、数据处理
1.测量数据应进行平均处理，计算出复合超导体的临界温度。
2.测量数据的误差应在规定范围内。

八、报告内容
测量报告应包括以下内容：
1.试样的标识和制备情况。
2.测量仪器设备的型号和参数。
3.测量方法和过程。
4.测量数据和处理结果。
5.测量数据的误差分析。
6.结论和建议。

相关标准：
GB/T 31779-2015 超导材料术语和定义
GB/T 31781-2015 临界电流测量 电阻法测复合超导体临界电流
GB/T 31782-2015 临界磁场测量 电阻法测复合超导体临界磁场
GB/T 31783-2015 临界电场测量 电阻法测复合超导体临界电场
GB/T 31784-2015 临界角测量 电阻法测复合超导体临界角