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蓝宝石单晶是一种重要的半导体材料，其位错密度是影响其性能的重要因素之一。因此，准确测量蓝宝石单晶的位错密度对于研究其性能具有重要意义。GB/T 33763-2017《蓝宝石单晶位错密度测量方法》就是为了解决这一问题而制定的。

该标准规定了蓝宝石单晶位错密度的测量方法。具体来说，该标准采用了X射线繁晶法和TEM法两种方法进行测量。其中，X射线繁晶法适用于位错密度较低的蓝宝石单晶，而TEM法适用于位错密度较高的蓝宝石单晶。在进行测量时，需要注意的是，样品的制备和处理应符合标准要求，以保证测量结果的准确性和可靠性。

此外，该标准还规定了测量结果的表示方法和报告要求。测量结果应以位错密度值的平均值和标准偏差表示，并应在报告中注明测量方法、样品来源、制备和处理方法等信息。

总之，GB/T 33763-2017《蓝宝石单晶位错密度测量方法》为蓝宝石单晶位错密度的测量提供了标准化的方法和要求，有助于提高蓝宝石单晶的质量和性能，促进相关领域的发展。

相关标准：
GB/T 33762-2017 蓝宝石单晶缺陷测量方法
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GB/T 33765-2017 蓝宝石单晶表面缺陷评定方法
GB/T 33766-2017 蓝宝石单晶晶体结构分析方法
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