GB/T 36590-2018
高纯银化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
发布时间:2018-09-17 实施时间:2019-06-01


高纯银是一种纯度高达99.999%以上的银材料,广泛应用于电子、光学、化学等领域。由于高纯银的纯度要求非常高,因此需要对其中的痕量杂质元素进行测定。本标准规定了辉光放电质谱法测定高纯银中痕量杂质元素的测定方法。

辉光放电质谱法是一种常用的化学分析方法,可以用于测定金属材料中的痕量元素。该方法的原理是将样品放置在真空中,通过高压电场使样品发生放电,产生辉光,然后通过质谱仪对辉光进行分析,从而确定样品中的元素种类和含量。

本标准中,测定高纯银中的痕量杂质元素需要先将样品制备成适合分析的形式,然后通过辉光放电质谱法进行测定。具体步骤如下:

1. 样品制备

将高纯银样品加入适量的氧化铜和氧化铝,然后在电炉中加热至1000℃以上,使样品与氧化物反应生成气态化合物。将气态化合物通过气体传输系统送入辉光放电质谱仪中进行分析。

2. 仪器条件

辉光放电质谱仪的工作条件需要根据具体仪器进行设置。一般需要设置放电电压、放电电流、气体流量等参数。

3. 分析方法

将样品送入辉光放电质谱仪中,通过高压电场使样品发生放电,产生辉光。然后通过质谱仪对辉光进行分析,从而确定样品中的元素种类和含量。

4. 数据处理

根据质谱仪的输出结果,可以得到样品中各元素的含量。需要注意的是,由于高纯银中痕量杂质元素的含量非常低,因此需要进行多次测定,取平均值作为最终结果。

本标准的实施可以有效保证高纯银中痕量杂质元素的测定准确性和可靠性,对于保证高纯银的质量和应用具有重要意义。

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