透射电镜选区电子衍射分析是一种常用的微束分析技术，可以用于研究材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷等信息。本标准规定了透射电镜选区电子衍射分析的方法，以保证分析结果的准确性和可靠性。

1. 范围
本标准适用于透射电镜选区电子衍射分析。

2. 规定
2.1 样品制备
样品应制备成薄片或薄箔，并保证表面平整、无氧化物和杂质等。

2.2 选区电子衍射图像的获取
选区电子衍射图像的获取应在透射电镜中进行，应选择合适的衍射区域，并保证图像清晰、对比度良好。

2.3 衍射图像的解析
衍射图像的解析应根据衍射斑的位置、形状、大小等特征，确定晶体的晶格类型、晶格参数、晶体缺陷等信息。

2.4 晶体结构的确定
晶体结构的确定应根据衍射图像的解析结果，采用适当的晶体学方法进行分析。

2.5 数据处理
数据处理应根据实际需要进行，包括晶格参数的计算、晶体缺陷的分析等。

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