GB/T 30703-2014
微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则
发布时间:2014-03-27 实施时间:2014-12-01
:
微束分析电子背散射衍射取向分析方法是一种非常重要的材料分析方法,可以用于研究材料的晶体结构、晶体取向、晶体缺陷等方面的问题。本标准规定了微束分析电子背散射衍射取向分析方法的基本原理、仪器设备、样品制备、实验操作、数据处理和结果分析等内容,适用于金属材料、非晶态材料、半导体材料、陶瓷材料、生物材料等领域的取向分析。
本标准主要包括以下内容:
1. 基本原理:介绍了微束分析电子背散射衍射取向分析的基本原理,包括电子背散射衍射的原理、取向分析的原理等。
2. 仪器设备:介绍了微束分析电子背散射衍射取向分析所需的仪器设备,包括电子显微镜、电子背散射衍射仪、样品制备设备等。
3. 样品制备:介绍了微束分析电子背散射衍射取向分析所需的样品制备方法,包括样品的制备、样品的处理等。
4. 实验操作:介绍了微束分析电子背散射衍射取向分析的实验操作方法,包括样品的安装、实验参数的设置、实验过程的控制等。
5. 数据处理:介绍了微束分析电子背散射衍射取向分析的数据处理方法,包括数据的采集、数据的处理、数据的分析等。
6. 结果分析:介绍了微束分析电子背散射衍射取向分析的结果分析方法,包括结果的解释、结果的比较、结果的应用等。
相关标准:
GB/T 30702-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法
GB/T 30704-2014 微束分析 电子背散射衍射晶体缺陷分析方法
GB/T 30705-2014 微束分析 电子背散射衍射晶体结构分析方法
GB/T 30706-2014 微束分析 电子背散射衍射晶体取向分析方法
GB/T 30707-2014 微束分析 电子背散射衍射应力分析方法