GB/T 20726-2015
微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
发布时间:2015-10-09 实施时间:2016-09-01
微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪是一种用于材料表面成分分析的仪器。本标准规定了该仪器的主要性能参数和核查方法,以确保其分析结果的准确性和可靠性。
本标准规定了微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪的主要性能参数,包括分辨率、计数率、能量分辨率、能量刻度、峰位漂移、峰位分辨率、背景计数率、检测极限等。这些参数的测定方法和要求在标准中都有详细说明。
此外,本标准还规定了微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪的核查方法,包括能量刻度核查、能量分辨率核查、计数率核查、峰位漂移核查、峰位分辨率核查、背景计数率核查、检测极限核查等。这些核查方法的目的是确保仪器的性能稳定和分析结果的准确性。
本标准的实施可以提高微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪的分析精度和可靠性,保证分析结果的准确性,有利于仪器的质量控制和质量保证。
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