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偏光片是一种常见的光学元件，广泛应用于各种光学仪器和电子产品中。偏光片的性能取决于其表面涂层的质量，而涂层的附着力是涂层质量的重要指标之一。因此，对偏光片用光学薄膜涂层附着力的测定方法进行规范，对于保证偏光片的质量和性能具有重要意义。

本标准规定了偏光片用光学薄膜涂层附着力的测定方法。具体内容如下：

1. 试样的制备：将偏光片切割成适当大小的试样，并在试样表面涂覆一层铝箔。

2. 试验仪器：使用万能试验机进行试验，试验机的夹具应能够夹住试样，并能够施加垂直于试样表面的拉力。

3. 试验过程：将试样夹在试验机夹具中，施加一定的拉力，使试样表面的铝箔开始脱落。记录下脱落的拉力值，并计算出涂层附着力。

4. 结果处理：将试验结果进行统计分析，计算出涂层附着力的平均值和标准差。

本标准的实施可以有效保证偏光片用光学薄膜涂层的质量和性能，提高偏光片的使用寿命和稳定性。

相关标准：
GB/T 33050-2016 偏光片用光学薄膜 光学性能的测定方法
GB/T 33051-2016 偏光片用光学薄膜 耐热性的测定方法
GB/T 33052-2016 偏光片用光学薄膜 耐湿性的测定方法
GB/T 33053-2016 偏光片用光学薄膜 耐盐雾性的测定方法
GB/T 33054-2016 偏光片用光学薄膜 耐腐蚀性的测定方法