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透射电子显微术（TEM）是一种高分辨率的显微镜技术，可以用于研究材料的微观结构和成分。在TEM中，电子束通过样品并被投影到屏幕上，形成一个图像。为了获得准确的图像，需要对图像进行放大。然而，TEM图像的放大倍率通常是不准确的，因此需要进行校准。

本标准规定了用周期结构标准物质校准TEM图像放大倍率的方法。周期结构标准物质是一种具有已知周期的材料，例如晶格常数已知的晶体。通过在TEM中观察这些标准物质的图像，可以确定TEM图像的放大倍率。

根据本标准，校准TEM图像放大倍率的步骤如下：

1. 准备周期结构标准物质样品，并在TEM中观察其图像。

2. 在TEM中拍摄标准物质的图像，并测量其实际大小。

3. 计算标准物质的周期大小。

4. 根据标准物质的周期大小和实际大小，计算TEM图像的放大倍率。

5. 重复上述步骤，直到获得准确的TEM图像放大倍率。

本标准的实施可以提高TEM图像的准确性和可靠性，为TEM技术的应用提供了重要的支持。

相关标准：
- GB/T 34001-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准晶格常数的方法
- GB/T 34003-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准晶体取向的方法
- GB/T 34004-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准TEM图像的畸变
- GB/T 34005-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准TEM图像的亮度和对比度
- GB/T 34006-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准TEM图像的分辨率