原子力显微术（AFM）是一种高分辨率的表面形貌和力学性质测量技术，广泛应用于纳米科学和纳米技术领域。MoS2片层材料是一种重要的二维材料，具有优异的电学、光学和力学性质，因此在纳米电子学、光电子学和机械学等领域有广泛的应用。MoS2片层材料的厚度是其性质和应用的重要参数之一，因此准确测量MoS2片层材料的厚度对于研究其性质和应用具有重要意义。

本标准规定了使用AFM测量MoS2片层材料厚度的方法。该方法基于AFM的力-距离曲线，通过分析曲线的斜率和截距来计算MoS2片层材料的厚度。在测量过程中，需要注意样品的制备和处理，以及AFM的操作和参数设置。本标准还提供了MoS2片层材料的表面形貌和厚度分析的实例。

本标准的实施可以提高MoS2片层材料厚度测量的准确性和可重复性，为MoS2片层材料的性质和应用研究提供可靠的数据支持。

相关标准
GB/T 328.1-2007 表面活性剂和洗涤剂 第1部分：通用试验方法
GB/T 328.2-2007 表面活性剂和洗涤剂 第2部分：非离子表面活性剂
GB/T 328.3-2007 表面活性剂和洗涤剂 第3部分：阴离子表面活性剂
GB/T 328.4-2007 表面活性剂和洗涤剂 第4部分：阳离子表面活性剂
GB/T 328.5-2007 表面活性剂和洗涤剂 第5部分：胶体和表面化学性质的测定