珍珠是一种珍贵的宝石，其质量评价主要依据珠层厚度、光泽、色泽、形状等因素。其中，珠层厚度是珍珠质量评价的重要指标之一。GB/T 23886-2009标准规定了珍珠珠层厚度测定的光学相干层析法，为珍珠质量评价提供了科学的依据。

光学相干层析法是一种非接触式的测量方法，可以测量珠层厚度的分布情况。该方法利用光学相干层析技术，通过测量珍珠表面反射光的干涉图案，计算出珠层厚度的分布情况。该方法具有测量精度高、测量速度快、不破坏样品等优点。

珠层厚度测量的具体步骤如下：

1. 准备样品：将珍珠样品放置在测量台上，调整样品位置，使其表面垂直于光路。

2. 调整光路：调整光路，使光线垂直于样品表面，并调整光源亮度和对比度，使干涉图案清晰可见。

3. 测量珠层厚度：通过计算机软件对干涉图案进行处理，得到珠层厚度的分布情况。

4. 分析结果：根据测量结果，对珍珠的质量进行评价。

本标准规定了珠层厚度测量的技术要求、仪器设备、样品制备、测量方法、数据处理等方面的内容，保证了测量结果的准确性和可靠性。该方法适用于珍珠质量评价、珍珠鉴定等领域。

相关标准
GB/T 16552-2017 珍珠分类及命名
GB/T 16553-2017 珍珠质量评价
GB/T 16554-2017 珍珠检验方法
GB/T 16555-2017 珍珠加工工艺术语
GB/T 16556-2017 珍珠加工工艺规范