GB/T 22061-2008
显微镜 偏光显微术的参考系统
发布时间:2008-06-20 实施时间:2009-01-01


GB/T 22061-2008《显微镜 偏光显微术的参考系统》是我国显微镜偏光显微术的标准,该标准规定了偏光显微镜的构造、性能、使用方法、检验和维护等方面的要求,是显微镜偏光显微术的参考系统。

偏光显微镜是一种利用偏振光原理进行观察的显微镜,它可以观察到物质的光学性质,如双折射、旋光性等。偏光显微镜广泛应用于材料科学、地质学、生物学、医学等领域。

本标准规定了偏光显微镜的构造要求,包括光学系统、机械系统、光源系统、偏振器和检偏器等方面的要求。其中,光学系统要求具有高分辨率、高对比度、高色彩还原性和低像差等特点,以保证观察到的图像质量。机械系统要求具有稳定性和精度,以保证观察时的稳定性和精度。光源系统要求具有均匀性和稳定性,以保证观察时的光源稳定性和均匀性。偏振器和检偏器要求具有高透过率和高偏振度,以保证观察时的偏振效果。

本标准还规定了偏光显微镜的性能要求,包括分辨率、对比度、色彩还原性、像差等方面的要求。其中,分辨率要求达到0.2μm以下,对比度要求达到10:1以上,色彩还原性要求达到CIE标准光源D65的要求,像差要求达到Abbe数1.25以上。

本标准还规定了偏光显微镜的使用方法,包括样品制备、观察方法、图像记录等方面的要求。其中,样品制备要求样品表面平整、无气泡、无杂质等,观察方法要求根据样品的性质选择合适的偏振方向和检偏方向,图像记录要求记录样品的图像和相关参数。

本标准还规定了偏光显微镜的检验和维护要求,包括检验方法、维护方法、故障排除等方面的要求。其中,检验方法要求对偏光显微镜的各项性能进行检验,维护方法要求对偏光显微镜进行定期维护和保养,故障排除要求对偏光显微镜的故障进行排除。

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