GB/T 23414-2009
微束分析 扫描电子显微术 术语
发布时间:2009-04-01 实施时间:2009-12-01
微束分析扫描电子显微术是一种高分辨率的表面分析技术,广泛应用于材料科学、地质学、生物学等领域。该技术通过扫描电子束对样品表面进行扫描,利用样品表面反射、散射、透射等不同的电子信号,获取样品表面的形貌、成分、结构等信息。微束分析扫描电子显微术的应用需要统一的术语和定义,以确保技术标准的准确性和可靠性。
GB/T 23414-2009《微束分析 扫描电子显微术 术语》共包括了60个术语和定义,其中包括了扫描电子显微镜、微束分析、样品制备、信号检测等方面的术语。例如,扫描电子显微镜的术语包括了电子枪、透镜、扫描线圈、检测器等;微束分析的术语包括了X射线荧光光谱、能谱分析、定量分析等;样品制备的术语包括了切片、抛光、腐蚀等;信号检测的术语包括了二次电子、反射电子、透射电子等。
该标准的发布,对于微束分析扫描电子显微术的应用和发展具有重要意义。通过统一术语的使用,可以避免不同实验室之间的术语混淆,提高技术标准的准确性和可靠性。同时,该标准的发布也为微束分析扫描电子显微术的应用提供了规范和指导,促进了该技术的发展和应用。
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