GB/T 10988-2009
光学系统杂(散)光测量方法
发布时间:2009-09-30 实施时间:2009-12-01
光学系统的杂光和散光是影响光学系统成像质量的重要因素。因此,对光学系统的杂光和散光进行测量是非常必要的。GB/T 10988-2009《光学系统杂(散)光测量方法》就是为了规范光学系统杂(散)光测量而制定的标准。
本标准主要包括以下内容:
1.术语和定义:对本标准中所使用的术语和定义进行了说明。
2.测量原理:介绍了杂光和散光的测量原理。
3.测量仪器:介绍了测量杂光和散光所需的仪器和设备。
4.测量方法:详细介绍了杂光和散光的测量方法,包括测量前的准备工作、测量过程中的注意事项以及测量结果的处理方法。
5.测量结果的表示:对测量结果的表示方法进行了说明。
6.测量误差的评定:对测量误差的评定方法进行了说明。
7.报告:对测量结果的报告要求进行了说明。
本标准的实施可以有效地保证光学系统杂(散)光测量的准确性和可靠性,为光学系统的设计、制造和检验提供了重要的依据。
相关标准
GB/T 19638-2005 光学系统成像质量评价方法
GB/T 19639-2005 光学系统成像质量评价术语
GB/T 19640-2005 光学系统成像质量评价标准
GB/T 19641-2005 光学系统成像质量评价实验方法
GB/T 19642-2005 光学系统成像质量评价数据处理方法