GB/T 11168-2009
光学系统像质测试方法
发布时间:2009-09-30 实施时间:2009-12-01


光学系统是现代科技中不可或缺的一部分,其应用范围广泛,包括军事、航空、航天、医疗、工业等领域。而光学系统的像质是评价其性能的重要指标之一。因此,对光学系统的像质进行测试是非常必要的。

GB/T 11168-2009 光学系统像质测试方法是我国制定的一项标准,旨在规范光学系统像质测试的方法和要求。该标准主要包括以下内容:

1.测试设备
光学系统像质测试需要使用一些专门的测试设备,如光学测试仪、干涉仪、自动对准仪等。本标准对这些测试设备的要求进行了详细说明,包括测试设备的基本原理、技术指标、使用方法等。

2.测试程序
光学系统像质测试需要按照一定的程序进行,以确保测试结果的准确性和可靠性。本标准对测试程序进行了详细的规定,包括测试前的准备工作、测试过程中的注意事项、测试结果的处理方法等。

3.测试参数
光学系统像质测试需要考虑的参数很多,如分辨率、畸变、色差、像场曲率等。本标准对这些参数的测试方法和要求进行了详细说明,以确保测试结果的准确性和可比性。

4.测试结果的评价
光学系统像质测试的最终目的是得到一些可比较的测试结果,以评价光学系统的像质。本标准对测试结果的评价方法进行了详细说明,包括评价指标、评价方法等。

总之,GB/T 11168-2009 光学系统像质测试方法是一项非常重要的标准,它规范了光学系统像质测试的方法和要求,为光学系统的研发和应用提供了可靠的技术支持。

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