GB/T 12085.8-2022
光学和光子学 环境试验方法 第8部分:高内压、低内压、浸没
发布时间:2022-10-12 实施时间:2023-05-01


光学和光子学产品在使用过程中,会受到各种环境因素的影响,如高温、低温、高湿、低湿、高压、低压、浸泡等。为了保证产品的可靠性和稳定性,需要进行环境试验。本标准规定了光学和光子学产品在高内压、低内压、浸没环境下的试验方法。

1. 高内压试验
高内压试验是指将产品置于高压环境下进行试验,以模拟产品在高海拔、高气压等环境下的使用情况。试验时,将产品放置于高压容器中,通过增加容器内的气体压力,使产品受到高压环境的影响。试验过程中,需要监测产品的性能参数,如光学性能、机械性能等。

2. 低内压试验
低内压试验是指将产品置于低压环境下进行试验,以模拟产品在高海拔、低气压等环境下的使用情况。试验时,将产品放置于低压容器中,通过减小容器内的气体压力,使产品受到低压环境的影响。试验过程中,需要监测产品的性能参数,如光学性能、机械性能等。

3. 浸没试验
浸没试验是指将产品置于液体中进行试验,以模拟产品在水下、潮湿环境下的使用情况。试验时,将产品完全浸没于液体中,通过控制液体的温度、压力等参数,使产品受到液体环境的影响。试验过程中,需要监测产品的性能参数,如光学性能、机械性能等。

4. 试验条件
本标准规定了高内压、低内压、浸没试验的试验条件,包括试验温度、试验时间、试验压力、试验液体等参数。试验条件应根据产品的使用环境和要求进行选择。

5. 试验评定
试验结束后,需要对产品进行评定。评定内容包括但不限于产品的外观、尺寸、光学性能、机械性能等。评定结果应符合产品的技术要求和规范要求。

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