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光纤放大器是一种将光信号放大的设备，广泛应用于光通信、光传感等领域。为了保证光纤放大器的性能和质量，需要进行各种试验。其中，带外插入损耗试验是其中之一。

带外插入损耗是指在光纤放大器的工作波长范围之外，信号通过光纤放大器时的插入损耗。带外插入损耗试验是评估光纤放大器性能的重要指标之一。本标准规定了光纤放大器带外插入损耗的试验方法。

试验设备：
1. 光源：发射波长应在光纤放大器的工作波长范围之外。
2. 光功率计：用于测量光源的输出功率和光纤放大器的输出功率。
3. 光纤放大器：待测光纤放大器。
4. 光纤连接器：用于连接光源、光纤放大器和光功率计。

试验步骤：
1. 将光源和光功率计连接起来，测量光源的输出功率。
2. 将光纤放大器连接到光源和光功率计之间，测量光纤放大器的输出功率。
3. 计算带外插入损耗，公式如下：
带外插入损耗 = 光源输出功率 - 光纤放大器输出功率

试验注意事项：
1. 光源的发射波长应在光纤放大器的工作波长范围之外，且光源的输出功率应稳定。
2. 光纤放大器应在其工作温度下进行试验。
3. 光纤连接器应保证连接质量，避免光损耗。

相关标准：
GB/T 16850.1-2001 光纤放大器试验方法基本规范 第1部分:总则
GB/T 16850.2-2001 光纤放大器试验方法基本规范 第2部分:增益的试验方法
GB/T 16850.3-2001 光纤放大器试验方法基本规范 第3部分:噪声系数的试验方法
GB/T 16850.4-2001 光纤放大器试验方法基本规范 第4部分:饱和输出功率的试验方法
GB/T 16850.5-2001 光纤放大器试验方法基本规范 第5部分:波长依赖性的试验方法