GB/T 18310.17-2003
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-17部分:试验 低温
发布时间:2003-11-24 实施时间:2004-08-01


纤维光学互连器件和无源器件是光通信系统中不可或缺的组成部分,其性能的稳定性和可靠性对整个系统的运行起着至关重要的作用。低温试验是评估这些器件在极端环境下性能的重要手段之一。GB/T 18310.17-2003标准规定了低温试验的方法和要求,以确保这些器件在低温环境下的性能和可靠性。

低温试验是指将被试样品置于低温环境下进行测试,以评估其在低温环境下的性能和可靠性。GB/T 18310.17-2003标准规定了低温试验的温度范围为-40℃至+85℃,试验时间为4小时。在试验过程中,被试样品应处于稳定的低温环境中,并应记录试验过程中的温度变化情况。

在低温试验中,被试样品应能够正常工作,并且其性能应与常温下的性能相当。GB/T 18310.17-2003标准规定了低温试验的项目,包括外观检查、光学性能测试、机械性能测试等。其中,光学性能测试包括插入损耗测试、回波损耗测试、偏振相关性能测试等,机械性能测试包括拉伸强度测试、振动测试等。

低温试验的结果应记录在试验报告中,并应与常温下的性能进行比较。如果被试样品在低温环境下的性能与常温下的性能相当,那么可以认为该样品在低温环境下具有良好的性能和可靠性。

总之,GB/T 18310.17-2003标准规定了纤维光学互连器件和无源器件低温试验的方法和要求,为评估这些器件在极端环境下的性能提供了重要的参考依据。

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