GB/T 15972.21-2008
光纤试验方法规范 第21部分:尺寸参数的测量方法和试验程序 涂覆层几何参数
发布时间:2008-03-31 实施时间:2008-11-01
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光纤是一种用于传输信息的重要材料,其性能的好坏直接影响到信息传输的质量。为了保证光纤的质量,需要对其进行各种试验。GB/T 15972.21-2008是一项关于光纤试验方法的标准,其中第21部分规定了光纤涂覆层几何参数的测量方法和试验程序。
本标准规定了光纤涂覆层几何参数的测量方法和试验程序,包括涂覆层直径、涂覆层厚度、涂覆层偏心度、涂覆层圆度等参数的测量方法和试验程序。其中,涂覆层直径的测量方法包括显微镜法、光学扫描法、激光扫描法等;涂覆层厚度的测量方法包括显微镜法、光学扫描法、激光扫描法等;涂覆层偏心度的测量方法包括显微镜法、光学扫描法、激光扫描法等;涂覆层圆度的测量方法包括显微镜法、光学扫描法、激光扫描法等。
本标准适用于光纤涂覆层几何参数的测量和试验,可用于光纤生产、质量控制和光纤产品的检验。
相关标准:
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